\n Петр Дэвид Неллист — британский физик и материаловед, в настоящее время профессор кафедры материалов Университета Оксфорда. Он известен за пионирование новых методов высокоразрешающей электронной микроскопии.

Неллист получил B.A (1991), M.A (1995) и Ph.D (1996) в колледже Святого Иоанна, Кембридж. Он учился в лабораториях Кавендиша под руководством Джона Родернга, а затем продолжил постдокторские исследования в Национальной Лаборатории Оук-Ридж (ORNL) с Стивом Пеникуком. Через 18 месяцев вернулся в Кембридж на стипендию Королевского общества, позже перешел работать в Университет Бирмингема.Покинув академию, он четыре года работал у Ондра Живанека (Ondrej Krivanek) — еще одного пионера микроскопии из Кэмбриджа. В 2002 году Неллист вернулся в Тринити-колледж Дублина и, наконец, перешёл на работу в Оксфордский университет (где стал заместителем главы кафедры материаловедения с 2019 года).

Основное направление исследований Неллиста — сканирующая трансмиссионная электронная микроскопия и её применение в науке о материалах. Он известен за работу по методам птыхографии, количественной интерпретации изображений и разработки корректирующих линз для микроскопов.

В середине 1990-х годов совместно с Джоном Родернга он предложил новые методики повышения разрешающей способности электронных микроскопов. В 1998 году, работая со Стивом Пеникуком в ORNL, Неллист получал изображение кристальных структур на рекордно высоких уровнях детализации.Награды включают: медаль Бёртона (2007) от Американского микроскопического общества; премию Эрнста Руска (2013), приз за лучшую публикацию в материаловедении и другие. В 2020 году он стал членом Королевской академии наук, а также вице-президентом Британского микроскопического общества.

=

Pennycook, Stephen; Nellist, Peter (ред.) (2011). Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis. New York: Springer. ISBN 9781441972002.=

Nellist, P.; Chisholm, F.; Dellby, N.; Krivanek, O.; Murfitt, M., et al. (17 сентября 2004). 'Direct sub-angstrom imaging of a crystal lattice'. Science. 305(5691):1741. doi:10.1126/science.1100965.Varela, M; Findlay, S; Lupini, A; Christen, H; Borisevich, A и др. (март 2004). 'Spectroscopic Imaging of Single Atoms Within a Bulk Solid'. Phys. Rev. Lett., том 92(9):095502.Dellby, Niklas; Krivanek, Ondrej; Nellist, Peter; Batson, Philip; Lupini, Andrew (2001). 'Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy'. Journal of Electron Microscopy. Том 50(3), стр.177-185.Nellist, P.; McCallum, B.; Rodenburg, J. (апрель 1995). 'Resolution beyond the "information limit" in transmission electron microscopy'. Nature. Т.374(6523):630–632.