\n Нестер Джеффри Залузек — американский ученый и изобретатель, работающий в Университете Чикаго и Аргоннской национальной лаборатории. Он разработчик сканирующего конфокального электронного микроскопа (Scanning Confocal Electron Microscope) и детектора π-стерадиан для передачи рентгеновских лучей в установках с электрооптическими пучками.

Залузек — член лаборатории Оук Ридж (ORNL), Университета Чикаго/CASE и коллаборативных программ Северозападного университетов/NAISE. Он занимает должности старшего ученого, преподавателя и изобретателя в Аргоннской лаборатории и Университете Чикаго.Как инновационный исследователь, он разрабатывает передовые инструменты для атомного разрешения рентгеновских спектроскопий и электронной микроскопии. Его работы включают изучение фазовых переходов в металлах, радиации в сплавах, керамических оксидах для геологического захоронения ядерных отходов, а также исследования по сегрегациям элементов и магнитным эффектам.Его последние работы касаются применения аберрационно-корректированных инструментов в спектроскопии материалов. Он был одним из первых, кто осознал потенциал Интернета для науки и создавал телеприсутственные микро-коллаборативы (TelePresence Microscopy Collaboratory), которые помогают распространять научные ресурсы.В качестве приглашенного профессора в различных университетах Иллинойса, он также активно работает с молодыми учеными через программу Illinois Junior Academy of Science. =

Залузек внес значительный вклад в область электронного микроанализа и спектрометрии, начиная от его работы по качественной рентгеновской и электронной спектрографии. Его исследования широко распространены благодаря лекциям, курсам и семинарам в научных сообществах.\n Он разработал методы STEM-изображения Лоренца, высокоугловую электронную спекроскопию каналирования (HARECXS), а также его изобретение — сканирующий конфокальный электронный микроскоп и π стерадиан детектор для рентгеновских лучей. За эти разработки он получил награды R&D 100 в 2003 году и снова в 2010 за другой проект.В 2021 его последний вклад, X-ray Perimeter Array Detector (XPAD), был признан самым чувствительным детектором рентгеновских лучей для аналитических электронных микроскопов. Его профессиональные достижения включают лидерство в Midwest Microscopy and Microanalysis Society и различные позиции в Международном обществе микроанализа (Microscopy Society of America), где он стал президентом в 2009 году.Он удостоен множества наград, среди которых: членство в Американском Обществе Микроскопии, Дистингвошедший учёный МСА и Феллоу Microanalysis Society. Также получил премию Президента США за наука, Питер Данкамб-приз от общества микроанализа, награды Иллинойского университета (College of Engineering) и других организаций.Залузец основывал Электронный Микроскопический Центр в Argonne National Laboratory. Он также занимает адъюнкт-профессорские должности в нескольких Университетах Иллинойса, а также является членом 7 микроанализовских обществ и участвует во множестве национальных комитетов.С 1980 года он активно работает волонтером. С 1993 года управляет списком Microscopy Listserver для связи более чем трех тысяч специалистов по всему миру.